無(wu)(wu)損檢(jian)(jian)測就是(shi)利用(yong)聲(sheng)(sheng)、光、磁和(he)電等(deng)特性(xing)(xing)，在不(bu)損害或(huo)不(bu)影(ying)響被(bei)(bei)檢(jian)(jian)對(dui)象(xiang)使用(yong)性(xing)(xing)能的前(qian)提(ti)下，檢(jian)(jian)測被(bei)(bei)檢(jian)(jian)對(dui)象(xiang)中(zhong)是(shi)否(fou)存(cun)在缺陷(xian)(xian)或(huo)不(bu)均(jun)勻性(xing)(xing)，給出缺陷(xian)(xian)的大小、位(wei)置(zhi)、性(xing)(xing)質和(he)數量等(deng)信息(xi)，進而判定被(bei)(bei)檢(jian)(jian)對(dui)象(xiang)所處技術狀態(如合格與(yu)否(fou)、剩(sheng)余壽命等(deng))的所有技術手段(duan)的總稱。常用(yong)的無(wu)(wu)損檢(jian)(jian)測方法：超聲(sheng)(sheng)檢(jian)(jian)測(UT)、磁粉檢(jian)(jian)測(MT)、液體(ti)滲透檢(jian)(jian)測(PT)及X射線檢(jian)(jian)測(RT)。       


  超聲波檢測已(yi)經單(dan)獨詳細的介紹過了，下面就簡單(dan)地對剩下的三個進行介紹和對比(bi)。       


 首先來(lai)了解一下(xia)，磁粉檢(jian)測的(de)原理(li)。鐵磁性材料和(he)工件被磁化后，由于不(bu)連續性的(de)存在(zai)，工件表面(mian)和(he)近表面(mian)的(de)磁力線發生(sheng)(sheng)局部畸變，而產生(sheng)(sheng)漏磁場，吸附施加在(zai)工件表面(mian)的(de)磁粉，形成在(zai)合適光照下(xia)目(mu)視(shi)可(ke)見的(de)磁痕，從而顯示出不(bu)連續性的(de)位置、形狀和(he)大(da)小。       


 磁粉檢(jian)測(ce)的(de)適用性和局限(xian)性有：


 1. 磁粉探傷適用于檢測鐵磁性(xing)材料表面(mian)和近表面(mian)尺寸很(hen)小(xiao)、間隙極窄目視難(nan)以看出的(de)不連續(xu)性(xing)。       


 2. 磁粉檢(jian)測可對多(duo)種(zhong)情況下的零部件檢(jian)測，還可多(duo)種(zhong)型(xing)件進行檢(jian)測。       


 3. 可發(fa)現裂(lie)紋、夾雜、發(fa)紋、白(bai)點、折疊、冷隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁粉檢(jian)測不(bu)能檢(jian)測奧氏體(ti)不(bu)銹(xiu)鋼材料和用奧氏體(ti)不(bu)銹(xiu)鋼焊條焊接的焊縫，也(ye)不(bu)能檢(jian)測銅鋁鎂鈦等非磁性材料。對(dui)于表(biao)(biao)面淺(qian)劃傷、埋藏較(jiao)深洞和與(yu)工(gong)件表(biao)(biao)面夾角小(xiao)于20°的分層和折疊很(hen)難發現。


  液(ye)(ye)體滲透(tou)檢測(ce)的(de)(de)(de)(de)基本(ben)原(yuan)理，零件表面(mian)被施涂(tu)含有熒光(guang)(guang)染(ran)料(liao)或著色染(ran)料(liao)后(hou)，在一(yi)段時(shi)間的(de)(de)(de)(de)毛細(xi)管(guan)(guan)作(zuo)用下(xia)，滲透(tou)液(ye)(ye)可以滲透(tou)進(jin)表面(mian)開(kai)口缺陷中(zhong)；經去除零件表面(mian)多余的(de)(de)(de)(de)滲透(tou)液(ye)(ye)后(hou)，再在零件表面(mian)施涂(tu)顯(xian)像劑，同樣，在毛細(xi)管(guan)(guan)的(de)(de)(de)(de)作(zuo)用下(xia)，顯(xian)像劑將(jiang)吸引缺陷中(zhong)保留的(de)(de)(de)(de)滲透(tou)液(ye)(ye)，滲透(tou)液(ye)(ye)回滲到顯(xian)像劑中(zhong)，在一(yi)定的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)源(yuan)下(xia)(紫(zi)外線光(guang)(guang)或白光(guang)(guang))，缺陷處的(de)(de)(de)(de)滲透(tou)液(ye)(ye)痕跡被現實(shi)，(黃綠色熒光(guang)(guang)或鮮(xian)艷(yan)紅色)，從而探測(ce)出缺陷的(de)(de)(de)(de)形貌及分布(bu)狀(zhuang)態。        


 滲透檢測的(de)優點：1. 可檢(jian)測各種材料； 2. 具有較高的靈敏(min)度；3. 顯示直觀(guan)、操作方便、檢(jian)測費用(yong)低。       


 滲透檢測的缺點(dian)：1. 不適于檢(jian)(jian)查(cha)多(duo)孔(kong)性疏松材料制成的(de)工件和表面(mian)(mian)粗糙的(de)工件；2. 滲透(tou)檢(jian)(jian)測只能檢(jian)(jian)出(chu)缺(que)(que)陷(xian)的(de)表面(mian)(mian)分(fen)布，難以確定缺(que)(que)陷(xian)的(de)實際深度，因而很(hen)難對缺(que)(que)陷(xian)做出(chu)定量評價。檢(jian)(jian)出(chu)結果受操作者的(de)影響也較大。       


 最后(hou)一種，射(she)線(xian)(xian)檢(jian)測，是(shi)因(yin)(yin)為 X射(she)線(xian)(xian)穿過被照射(she)物(wu)體(ti)后(hou)會有損耗(hao)，不同厚度(du)不同物(wu)質(zhi)對它們(men)的吸收率不同，而(er)底片放在(zai)被照射(she)物(wu)體(ti)的另一側，會因(yin)(yin)為射(she)線(xian)(xian)強度(du)不同而(er)產生相(xiang)應的圖形,評(ping)片人員就可以根據影像來判斷物(wu)體(ti)內部的是(shi)否有缺(que)陷(xian)(xian)以及缺(que)陷(xian)(xian)的性(xing)質(zhi)。 


 射線(xian)檢測的(de)(de)(de)適(shi)用性和局限性：   1. 對(dui)檢測體積型(xing)的(de)(de)(de)缺(que)陷(xian)比較敏感，比較容易(yi)對(dui)缺(que)陷(xian)進(jin)行(xing)定性。 2. 射線(xian)底(di)片易(yi)于保留，有(you)追(zhui)溯(su)性。3. 直觀顯示缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)形狀和類型(xing)。  4. 缺(que)點不能定位缺(que)陷(xian)的(de)(de)(de)埋(mai)藏深度(du)，同時(shi)檢測厚(hou)度(du)有(you)限，底(di)片需專(zhuan)門送洗，并且對(dui)人身體有(you)一定害，成本較高。     


  總而言之，超聲波、X射(she)線(xian)探(tan)(tan)傷適用于探(tan)(tan)傷內部(bu)缺(que)陷；其(qi)中超聲波適用于5mm以上，且形狀(zhuang)規則的(de)部(bu)件，X射(she)線(xian)不能定位缺(que)陷的(de)埋藏深度(du)，有輻射(she)。 磁(ci)粉(fen)、滲透探(tan)(tan)傷適用于探(tan)(tan)傷部(bu)件表(biao)面缺(que)陷；其(qi)中磁(ci)粉(fen)探(tan)(tan)傷僅限(xian)于檢(jian)測磁(ci)性(xing)材料(liao)，滲透探(tan)(tan)傷僅限(xian)于檢(jian)測表(biao)面開口缺(que)陷。