自動化不銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢(jian)(jian)測(ce)探頭是磁(ci)(ci)場傳(chuan)感器(qi)的(de)載體和組合(he)，是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)信號的(de)收集(ji)器(qi)。隨著漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)應用的(de)不斷深入和檢(jian)(jian)測(ce)要(yao)求的(de)逐步提(ti)高，除了磁(ci)(ci)化問題，另一個核心就是漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)探頭的(de)設計(ji)。若探頭性能不好或者(zhe)(zhe)不合(he)適(shi)，則會出現(xian)漏(lou)判或者(zhe)(zhe)誤判，嚴重(zhong)影響漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)的(de)可靠(kao)性。
另一方面，沒有一種探頭(tou)是萬(wan)能的。由于自然缺(que)陷的形態(tai)千變萬(wan)化，檢(jian)測探頭(tou)必(bi)然存(cun)在(zai)局(ju)限性，漏判或誤判的情況在(zai)檢(jian)測實踐中時有發(fa)生。下面對檢(jian)測探頭(tou)的內部結(jie)構和檢(jian)測特性進行(xing)分(fen)析。
一、漏磁檢測探頭的結構形式(shi)
目前，最(zui)具代表(biao)性(xing)的不銹鋼管(guan)漏磁(ci)檢(jian)測傳(chuan)感器(qi)有(you)兩種：霍(huo)爾元(yuan)件(jian)和感應(ying)線圈(quan)，尤其是集(ji)成霍(huo)爾元(yuan)件(jian)和光刻平面線圈(quan)。為了獲得較(jiao)高的磁(ci)場測量空間分辨力和相對(dui)寬廣的掃查(cha)范圍，檢(jian)測探頭芯結構有(you)多種形式。
1. 點(dian)(dian)檢測(ce)形式 在檢測(ce)探(tan)頭中(zhong)，對某一點(dian)(dian)上或微(wei)小區域的漏磁場測(ce)量(liang)，并且每個測(ce)點(dian)(dian)對應于一個獨(du)立的信(xin)號通道，如(ru)圖3-6a所示(shi)，以下簡稱為點(dian)(dian)檢探(tan)頭。很明(ming)顯(xian)，點(dian)(dian)檢探(tan)頭中(zhong)每個點(dian)(dian)能夠掃查(cha)的檢測(ce)范圍很小，但(dan)空間分辨力(li)高，如(ru)單(dan)個霍(huo)爾元件的敏感面積(ji)只有0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)檢用檢測(ce)線圈也可做到φ1mm內。
2. 線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)形式 在檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)探頭(tou)中，對一條線(xian)(xian)上的(de)(de)漏磁(ci)場進行綜合測(ce)(ce)(ce)量(liang)，如圖3-6b所示，以下(xia)簡稱為線(xian)(xian)檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)。例如，用感(gan)(gan)應(ying)(ying)線(xian)(xian)圈(quan)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)時(shi)，將(jiang)(jiang)線(xian)(xian)圈(quan)做(zuo)成條狀，則它感(gan)(gan)應(ying)(ying)的(de)(de)是線(xian)(xian)圈(quan)掃查路徑(jing)對應(ying)(ying)空(kong)間(jian)范圍內的(de)(de)漏磁(ci)通的(de)(de)變化。用霍爾(er)元件檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)時(shi)，采用線(xian)(xian)陣排列，將(jiang)(jiang)多個(ge)元件檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)信號用加(jia)法器(qi)疊加(jia)后輸出單個(ge)通道信號，則該信號反映的(de)(de)是霍爾(er)元件線(xian)(xian)陣長度(du)內的(de)(de)磁(ci)感(gan)(gan)應(ying)(ying)強(qiang)度(du)的(de)(de)平(ping)均值。
在漏磁檢測中，上(shang)述兩(liang)種(zhong)形式(shi)(shi)(shi)是最基本(ben)的(de)形式(shi)(shi)(shi)，由(you)此可以組合(he)成多(duo)種(zhong)形式(shi)(shi)(shi)的(de)探(tan)頭，如圖(tu)3-6c所示(shi)的(de)平(ping)(ping)面內的(de)面陣列探(tan)頭，以及圖(tu)3-6d所示(shi)的(de)多(duo)個平(ping)(ping)面上(shang)的(de)立體陣列探(tan)頭。
二、漏磁(ci)檢測探頭的檢測特性(xing)
1. 缺陷類型(xing)
不銹鋼管(guan)在(zai)進行漏磁檢測方法和設備的考核時，常采用機加工或(huo)電火(huo)花方式刻(ke)制標(biao)準人工缺陷(xian)，自(zi)然缺陷(xian)可(ke)表(biao)達成它們的組合形(xing)式。為便于分析和精確評估(gu)，將標(biao)準缺陷(xian)分成下列三類(lei)。
（1）點(dian)(dian)狀缺陷(xian)(xian) 點(dian)(dian)狀缺陷(xian)(xian)的(de)面(mian)積小(xiao)，集(ji)中(zhong)在一(yi)(yi)點(dian)(dian)或小(xiao)圈內，如標準缺陷(xian)(xian)里的(de)通孔，自然缺陷(xian)(xian)里的(de)蝕坑、斑(ban)點(dian)(dian)、氣孔等，它們(men)產生(sheng)的(de)漏磁場(chang)是(shi)一(yi)(yi)個集(ji)中(zhong)的(de)點(dian)(dian)團狀場(chang)，分布范圍小(xiao)。
（2）線狀(zhuang)缺陷(xian) 線狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)(de)(de)寬長比很小，形成一條(tiao)線，如標準缺陷(xian)里(li)(li)的(de)(de)(de)矩(ju)形刻槽(cao)、自然缺陷(xian)里(li)(li)的(de)(de)(de)裂紋等，它們產生的(de)(de)(de)漏磁(ci)場(chang)是(shi)沿線條(tiao)的(de)(de)(de)帶狀(zhuang)場(chang)。
（3）體(ti)狀缺(que)陷(xian)(xian) 體(ti)狀缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)長(chang)、寬、深尺(chi)寸均較大，形(xing)成坑(keng)或窩(wo)，如標準缺(que)陷(xian)(xian)中(zhong)的(de)(de)大不通孔(kong)、自然缺(que)陷(xian)(xian)里的(de)(de)片狀腐蝕等(deng)，它們產(chan)生的(de)(de)漏磁場分布(bu)范圍廣(guang)。
2. 不同(tong)結構探(tan)頭的檢(jian)測特(te)性
不(bu)銹鋼(gang)管在漏磁(ci)檢(jian)測(ce)中，特別(bie)要強(qiang)調(diao)空(kong)(kong)間(jian)和(he)方向(xiang)的概(gai)念。因為，漏磁(ci)場(chang)是空(kong)(kong)間(jian)場(chang)，且具有(you)(you)(you)方向(xiang)性；漏磁(ci)檢(jian)測(ce)信(xin)(xin)號是時間(jian)域的，且沒有(you)(you)(you)相位信(xin)(xin)息；不(bu)僅檢(jian)測(ce)探頭具有(you)(you)(you)敏感方向(xiang)，而(er)且檢(jian)測(ce)探頭的掃查(cha)路徑也具有(you)(you)(you)方向(xiang)性，不(bu)同方向(xiang)均會對檢(jian)測(ce)信(xin)(xin)號及其(qi)特征產生影(ying)響(xiang)。
另一方(fang)面(mian)，應(ying)該特別注意(yi)缺陷漏磁場(chang)的表征形式，在這(zhe)里，漏磁場(chang)強度(du)和漏磁場(chang)梯度(du)存在著本(ben)(ben)質的不(bu)同。霍爾(er)(er)元件(jian)和感應(ying)線圈(quan)兩(liang)種器件(jian)的應(ying)用也有(you)著根本(ben)(ben)的區別。霍爾(er)(er)元件(jian)可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)空間某點上的磁場(chang)強度(du)，而感應(ying)線圈(quan)卻無法實現；感應(ying)線圈(quan)感應(ying)的是空間一定范(fan)圍(wei)內的磁通量(liang)的變化程度(du)，相(xiang)反，霍爾(er)(er)元件(jian)不(bu)可(ke)以(yi)測(ce)量(liang)磁通量(liang)的變化，它(ta)測(ce)量(liang)的是一定空間范(fan)圍(wei)內的磁感應(ying)強度(du)的平均值。
下(xia)面將逐一(yi)分析兩(liang)種(zhong)基本探(tan)頭形式對不同(tong)類型缺陷的檢測(ce)信號特性。
a. 點檢探(tan)頭的信號特性
點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)測量的(de)(de)(de)(de)是空間(jian)某點(dian)上的(de)(de)(de)(de)漏(lou)磁(ci)(ci)感應強度(du)(du)或(huo)磁(ci)(ci)通(tong)(tong)量的(de)(de)(de)(de)變(bian)化。點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)對(dui)點(dian)狀缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測是“針(zhen)尖對(dui)麥芒(mang)”，空間(jian)相(xiang)對(dui)位置的(de)(de)(de)(de)微小變(bian)化，均有可(ke)能引(yin)起檢(jian)(jian)(jian)測信(xin)號(hao)幅(fu)度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)波動。點(dian)狀缺(que)陷的(de)(de)(de)(de)漏(lou)磁(ci)(ci)場分布(bu)是尖峰狀的(de)(de)(de)(de)，當點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)正對(dui)峰頂時(shi)，信(xin)號(hao)幅(fu)度(du)(du)最大，偏離時(shi)信(xin)號(hao)幅(fu)度(du)(du)將(jiang)急劇下(xia)降(jiang)。因此，用(yong)點(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)去檢(jian)(jian)(jian)測點(dian)狀缺(que)陷時(shi)將(jiang)會產生不(bu)穩(wen)定的(de)(de)(de)(de)信(xin)號(hao)，導(dao)致(zhi)誤判或(huo)漏(lou)判。進行(xing)檢(jian)(jian)(jian)測設備標(biao)定時(shi)，也難將(jiang)各通(tong)(tong)道的(de)(de)(de)(de)靈敏(min)度(du)(du)調整(zheng)到一致(zhi)。
點檢(jian)(jian)探頭檢(jian)(jian)測(ce)線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)時(shi)，很容易掃查(cha)到線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)產生(sheng)的(de)“山脈”狀(zhuang)漏磁場的(de)某一(yi)(yi)個縱斷面，檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)號幅度(du)將正比(bi)于線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)深(shen)度(du)。當線(xian)(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)長度(du)大于一(yi)(yi)定(ding)(ding)值(zhi)時(shi)，設備標定(ding)(ding)或檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)號的(de)一(yi)(yi)致性和(he)穩定(ding)(ding)性均較好。
b. 線(xian)檢探(tan)頭的信號特性
線(xian)(xian)檢(jian)探(tan)(tan)頭測量(liang)的(de)(de)(de)是探(tan)(tan)頭長(chang)度(du)(du)(du)(du)范圍內的(de)(de)(de)平均磁感應強(qiang)度(du)(du)(du)(du)或磁通(tong)量(liang)的(de)(de)(de)變化(hua)。與點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭相比，線(xian)(xian)檢(jian)探(tan)(tan)頭的(de)(de)(de)輸出信號(hao)特性不但與缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)深度(du)(du)(du)(du)有關，而且與缺(que)(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)(de)長(chang)度(du)(du)(du)(du)有關，最終與缺(que)(que)陷(xian)(xian)缺(que)(que)失的(de)(de)(de)截面積成比例。這類探(tan)(tan)頭不能(neng)直接獲得(de)與缺(que)(que)陷(xian)(xian)深度(du)(du)(du)(du)相關的(de)(de)(de)信息，因為長(chang)而淺的(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)與短而深的(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)(xian)在(zai)檢(jian)測信號(hao)幅度(du)(du)(du)(du)上(shang)有可能(neng)是一樣的(de)(de)(de)。
線檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭對(dui)點狀缺陷的(de)檢(jian)(jian)測是“滴水不(bu)漏”。由于線檢(jian)(jian)探(tan)(tan)頭的(de)長度(du)遠大于點狀缺陷的(de)長度(du)，在檢(jian)(jian)測路徑上，缺陷相對(dui)于探(tan)(tan)頭位置(zhi)變化時，不(bu)會(hui)影響檢(jian)(jian)測信號的(de)幅度(du)，因而一致性較好。
線(xian)(xian)檢探(tan)頭檢測線(xian)(xian)狀缺陷時，情況較為復雜，探(tan)頭與(yu)缺陷的長(chang)度比以(yi)及位置關系均會影響信號幅值。下面(mian)舉例(li)分析。
如圖3-7a所示，用有(you)效長(chang)度(du)為(wei)25mm的線(xian)檢探頭(tou)檢測(ce)(ce)25mm長(chang)的刻槽。當探頭(tou)正對(dui)刻槽時，獲得最大的信(xin)(xin)號(hao)幅值；當探頭(tou)與(yu)刻槽的位(wei)(wei)置(zhi)錯開時，信(xin)(xin)號(hao)幅值將隨著探頭(tou)與(yu)缺陷(xian)交(jiao)叉重疊程度(du)的減(jian)小(xiao)而減(jian)弱，此種狀態對(dui)檢測(ce)(ce)是(shi)(shi)不利(li)的，不論是(shi)(shi)設(she)備標定還是(shi)(shi)檢測(ce)(ce)應用均(jun)很難獲得一致(zhi)的檢測(ce)(ce)信(xin)(xin)號(hao)。圖3-7中左邊的粗線(xian)段(duan)(duan)為(wei)線(xian)檢探頭(tou)，中間的細線(xian)段(duan)(duan)為(wei)不同(tong)位(wei)(wei)置(zhi)的線(xian)狀缺陷(xian)，右邊為(wei)不同(tong)探頭(tou)的檢測(ce)(ce)信(xin)(xin)號(hao)幅度(du)。為(wei)實現線(xian)檢探頭(tou)的一致(zhi)性檢測(ce)(ce)，有(you)如下(xia)兩種做法(fa)：
①. 減小(xiao)線檢(jian)探頭的(de)有效長度，讓它小(xiao)于或等于線狀缺陷長度的(de)一半，同時將相鄰檢(jian)測探頭按50％重疊布置(zhi)，如圖3-7b所示(shi)。可(ke)以看出，不論缺陷從哪個路徑(jing)通過探頭陣列，均(jun)可(ke)在(zai)某一檢(jian)測單元(yuan)中獲得一個最大的(de)信(xin)號幅(fu)值(zhi)，而在(zai)其(qi)他(ta)檢(jian)測單元(yuan)中得到(dao)較小(xiao)的(de)信(xin)號幅(fu)值(zhi)。
此時，由于(yu)線(xian)(xian)狀缺(que)陷長(chang)(chang)度(du)遠大(da)于(yu)探(tan)(tan)(tan)頭長(chang)(chang)度(du)，檢測探(tan)(tan)(tan)頭測量的(de)是漏磁場“山脈(mo)”中的(de)某一(yi)段，如(ru)果線(xian)(xian)狀缺(que)陷深度(du)一(yi)致，它可以直接反映(ying)出深度(du)信(xin)息。將線(xian)(xian)檢探(tan)(tan)(tan)頭的(de)長(chang)(chang)度(du)再不斷(duan)縮小，線(xian)(xian)檢探(tan)(tan)(tan)頭則變成點檢探(tan)(tan)(tan)頭。此時，在采(cai)用標準人(ren)工缺(que)陷進行(xing)設備(bei)標定時，任何(he)狀態均可得到(dao)一(yi)致的(de)檢測信(xin)號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢(jian)測(ce)方法測(ce)量(liang)的(de)(de)是(shi)線(xian)(xian)狀缺(que)陷的(de)(de)平均磁感應強(qiang)度(du)，因而，它反映不了線(xian)(xian)狀缺(que)陷的(de)(de)深度(du)信息。當缺(que)陷的(de)(de)長度(du)逐(zhu)漸減小(xiao)時，則(ze)轉變成線(xian)(xian)檢(jian)探頭對(dui)點狀缺(que)陷的(de)(de)檢(jian)測(ce)。
3. 面向對象的(de)檢(jian)測(ce)探頭設計(ji)和選用
在漏磁(ci)檢測中，應該根據具體(ti)的檢測要求來設計(ji)和選擇合適的探頭(tou)芯結構，下面給出幾種(zhong)探頭(tou)設計(ji)和選用原則。
a. 缺陷的(de)(de)(de)(de)深(shen)度(du)(du)檢(jian)測(ce)應該選擇點(dian)(dian)檢(jian)探頭 點(dian)(dian)檢(jian)探頭反映的(de)(de)(de)(de)是局部磁(ci)感應強度(du)(du)或其變化(hua)。當(dang)(dang)裂紋(wen)較長時，測(ce)點(dian)(dian)相當(dang)(dang)于對(dui)無限(xian)長矩形槽的(de)(de)(de)(de)探測(ce)，因而，測(ce)點(dian)(dian)的(de)(de)(de)(de)信號幅度(du)(du)與缺陷深(shen)度(du)(du)密切相關。但(dan)是，當(dang)(dang)線狀(zhuang)缺陷越來越短時，測(ce)量的(de)(de)(de)(de)誤差也就越來越大，特別地，對(dui)點(dian)(dian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)(de)深(shen)度(du)(du)探測(ce)幾(ji)乎不(bu)可能。
在鋼管(guan)漏(lou)磁檢測校樣(yang)過(guo)程中(zhong)，一般均以通(tong)孔作為標定試樣(yang)上的標準缺陷，這樣(yang)，大、小孔的深度(du)一致，孔徑尺寸(cun)反(fan)映(ying)出缺失截面積(ji)(ji)的線(xian)性變(bian)化(hua)，因而，漏(lou)磁磁通(tong)量也(ye)將(jiang)發生線(xian)性變(bian)化(hua)。對(dui)于(yu)不通(tong)孔，當孔的深度(du)和直(zhi)徑均為變(bian)量時，僅通(tong)過(guo)尋找孔深與孔徑的乘積(ji)(ji)與信號幅(fu)度(du)關系去(qu)反(fan)演或推算深度(du)是不可能的。這也(ye)是僅采用漏(lou)磁方法進行檢測的不足(zu)。
b. 缺陷的(de)(de)損失截(jie)面積檢測(ce)(ce)應該選擇(ze)線(xian)檢探頭 線(xian)檢探頭的(de)(de)信號幅度與缺陷損失的(de)(de)截(jie)面積成比例，因(yin)而(er)有較好的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)精度。在有些檢測(ce)(ce)對象(xiang)中應用較好。
c. 缺陷的長(chang)度(du)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)應(ying)該用(yong)點(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣列(lie)(lie)或(huo)點(dian)(dian)線組合式探(tan)頭(tou)(tou)(tou) 點(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)敏感(gan)(gan)(gan)于缺陷的深度(du)，當采用(yong)點(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)陣列(lie)(lie)時，缺陷長(chang)度(du)覆蓋的通(tong)道數量可以反(fan)映(ying)其(qi)長(chang)度(du)信息(xi)；另一方面，當線檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)大于缺陷的長(chang)度(du)時，感(gan)(gan)(gan)應(ying)的是深度(du)和(he)長(chang)度(du)的共(gong)同(tong)信息(xi)，如在其(qi)感(gan)(gan)(gan)應(ying)范圍內并列(lie)(lie)布置一個或(huo)多個點(dian)(dian)檢(jian)(jian)(jian)探(tan)頭(tou)(tou)(tou)感(gan)(gan)(gan)受深度(du)信息(xi)，則裂(lie)紋的長(chang)度(du)就可以計算出來。
從信號處理(li)角度來(lai)看，點線組合(he)式(shi)探頭需(xu)要的通(tong)道數(shu)量較少(shao)，可以(yi)同時獲得缺陷的深度、長度、缺失(shi)截面積等信息(xi)，具有較強的應用價值(zhi)。
d. 斜向(xiang)(xiang)裂紋采用點檢探頭陣列檢測 在漏(lou)磁檢測中(zhong)，當缺陷(xian)(xian)走向(xiang)(xiang)與磁化場方向(xiang)(xiang)不垂(chui)直時，漏(lou)磁場的強度(du)將降(jiang)低，從而獲(huo)得(de)較小的信(xin)號(hao)幅(fu)值。因此，斜向(xiang)(xiang)缺陷(xian)(xian)的檢測與評估(gu)，需要(yao)首先檢測出裂紋的走向(xiang)(xiang)，并(bing)且根據走向(xiang)(xiang)修正漏(lou)磁場信(xin)號(hao)幅(fu)度(du)，再進行(xing)深度(du)判別。
另一(yi)方(fang)面(mian)，當探(tan)頭(tou)(tou)掃查路(lu)徑垂(chui)直于缺陷走(zou)向(xiang)時，檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)值最(zui)大(da)；隨著兩(liang)者夾角不斷減小(xiao)，檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)值逐漸降低，同(tong)時信(xin)號(hao)(hao)特性也(ye)將發(fa)生明顯變(bian)化(hua)。此時，線檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)(hao)特性變(bian)化(hua)很(hen)大(da)，點檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)的(de)信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)度(du)波(bo)動(dong)卻很(hen)小(xiao)。因此，可利用(yong)點檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)陣列中各通道獲(huo)得(de)最(zui)大(da)幅(fu)值的(de)時間差異來推算缺陷走(zou)向(xiang)，為后續的(de)信(xin)號(hao)(hao)補(bu)償與缺陷判別奠定基礎(chu)，如(ru)圖3-8所示。
漏(lou)磁設備的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)能力與探(tan)頭芯結(jie)構密切(qie)相關，從目前應用情況來看，漏(lou)磁檢(jian)測(ce)(ce)方法(fa)(fa)(fa)對內外部腐蝕(shi)坑、內外部周／軸向(xiang)裂(lie)紋(wen)(wen)均有(you)較好(hao)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)精度(du)，同時(shi)，對斜向(xiang)裂(lie)紋(wen)(wen)具有(you)一定(ding)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)(ce)能力。但是，漏(lou)磁檢(jian)測(ce)(ce)方法(fa)(fa)(fa)對微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)，如初期的(de)(de)(de)疲勞(lao)裂(lie)紋(wen)(wen)、熱(re)處理的(de)(de)(de)應力裂(lie)紋(wen)(wen)、軋(ya)制時(shi)的(de)(de)(de)微(wei)機械裂(lie)紋(wen)(wen)和折疊不太敏感。究(jiu)其(qi)原因(yin)(yin)，微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)的(de)(de)(de)開口(kou)均小于0.05mm，漏(lou)磁場強度(du)較低，因(yin)(yin)此(ci)，有(you)必要輔以渦流、超聲(sheng)等(deng)其(qi)他檢(jian)測(ce)(ce)方法(fa)(fa)(fa)。
我國進口漏磁檢測設備采(cai)用(yong)的基本都是(shi)基于(yu)線(xian)圈(quan)的線(xian)檢探頭，這(zhe)種(zhong)配置需要(yao)的信號(hao)通(tong)道數量相(xiang)對(dui)(dui)較少(shao)、探靴的有效覆(fu)蓋范圍大。但是(shi)，這(zhe)種(zhong)方式(shi)對(dui)(dui)缺陷(xian)的深度評定需要(yao)一定的輔助(zhu)條(tiao)件，而且對(dui)(dui)斜(xie)向(xiang)缺陷(xian)的檢測靈敏度較低。
在具體應用過程中，首先應分析檢(jian)(jian)測(ce)要(yao)求和對象特點，其次要(yao)認識探頭芯的形式和結構。總的來講，采(cai)用線(xian)檢(jian)(jian)探頭去檢(jian)(jian)測(ce)線(xian)狀(zhuang)缺陷(xian)的深度(du)(du)信(xin)息(xi)(xi)和采(cai)用點檢(jian)(jian)探頭去評定(ding)點狀(zhuang)缺陷(xian)的長度(du)(du)信(xin)息(xi)(xi)均是不現實的；高精(jing)度(du)(du)的檢(jian)(jian)測(ce)需要(yao)以大量(liang)的獨立測(ce)量(liang)通道(dao)和信(xin)號(hao)處理系(xi)統為(wei)代價，因此，應根(gen)據檢(jian)(jian)測(ce)目標綜合權衡。
